粒度檢測(cè)粒徑粉體分布噴霧激光粒度分析儀動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析BOS-DT180是國(guó)內(nèi)一代動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備，它采用的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件，將計(jì)算機(jī)圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論結(jié)合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時(shí)，將顆粒的粒度、球型度、長(zhǎng)徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來(lái)，使用戶可以詳細(xì)的了解顆粒。

產(chǎn)品型號(hào)：BOS-DT180

更新時(shí)間：2025-08-07

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問(wèn)量：4853

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

粉末顆粒分析儀器

激光粒度儀活性白土堆積密度計(jì) 陶粒砂體積密度測(cè)量?jī)x 普通磨料堆積密度測(cè)定儀膨脹珍珠巖堆積密度計(jì) 流動(dòng)角測(cè)定儀其他粉末測(cè)試儀振實(shí)密度計(jì) 粉末綜合特性測(cè)試儀安息角測(cè)定儀激光粒度分析儀休止角測(cè)定儀霍爾流速計(jì) 自然堆積密度計(jì)

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動(dòng)態(tài)激光粒度儀是圍繞“準(zhǔn)確捕捉散射光信號(hào)”展開(kāi)工作的

干濕兩用激光粒度儀的原理

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粒度檢測(cè)粒徑粉體分布噴霧激光粒度分析儀直觀反映顆粒形貌將顆粒的表面形貌直接反映到計(jì)算機(jī)屏幕，用戶可以直觀且全面了解顆粒的表面及形狀屬性；

拼接多幅圖像將選取不同視場(chǎng)拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅，使參與分析的顆粒數(shù)量更多，測(cè)試結(jié)果更具代表性；
自動(dòng)分割粘連顆粒采用更良好的顆粒識(shí)別算法，對(duì)各種形狀的粘連顆粒都能自動(dòng)分割，顯著提高粘連顆粒分割準(zhǔn)確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時(shí)間；
自適應(yīng)二值化功能采用一種自適應(yīng)二值化功能，使其進(jìn)行圖像二值化處理時(shí)不受拍攝光線的影響，避免了因光線不均勻等因素而導(dǎo)致顆粒信息丟失的情況，為后續(xù)處理奠定基礎(chǔ)；
自動(dòng)處理顆粒圖像顆粒圖像分析軟件含有自動(dòng)處理工具集，集成了二值化、消除邊界不完整顆粒、消除雜點(diǎn)、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計(jì)算顆粒參數(shù)等功能的自動(dòng)操作，一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結(jié)果的生成等全部過(guò)程，操作簡(jiǎn)便且結(jié)果可靠；
自由切換粒徑單位標(biāo)尺選取支持多種長(zhǎng)度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換，便于用戶對(duì)通過(guò)電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步處理；
快速處理特殊形狀顆粒對(duì)于球形顆粒，采用*的處理算法，對(duì)原始圖片無(wú)需進(jìn)行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息，即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會(huì)影響分析結(jié)果，提高球形顆粒的分析效率。

適用范圍:
粒度檢測(cè)粒徑粉體分布噴霧激光粒度分析儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹(shù)脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
技術(shù)參數(shù)

規(guī)格型號(hào)		BOS-DT180
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)		ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008
成像系統(tǒng)	測(cè)試范圍	4-400μm
	光學(xué)放大倍數(shù)	150-1000倍可調(diào)，大可達(dá)1000倍
	大分辨率	0.5μm
攝像系統(tǒng)	重復(fù)性	＜1%
	準(zhǔn)確性	＜1%
	光源	采用藍(lán)色高亮LED點(diǎn)光源
	顆粒識(shí)別速度	＞10000個(gè)每分鐘
	攝像機(jī)	采用高速攝像機(jī)，成像速度不低于120幀每秒
進(jìn)樣方式		采用鞘流進(jìn)樣方式
軟件功能	粒度分析	包括粒度分布、典型值、大粒徑、特定區(qū)間含量、大于或小于某粒徑的含量
	粒形分析	長(zhǎng)徑比及分布、圓形度及分布、顆粒圖像
	顆粒計(jì)數(shù)	計(jì)量一定體積液體中的顆粒個(gè)數(shù)
	圓形度分析	能快速分析顆粒的圓形度
	比例尺標(biāo)定	通過(guò)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)微尺標(biāo)定后，可通過(guò)顆粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)驗(yàn)證系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。
	單個(gè)顆粒數(shù)據(jù)	可在圖片上直接對(duì)單個(gè)顆粒進(jìn)行截面積、體積、長(zhǎng)徑比等10多項(xiàng)參數(shù)的分析。
	任務(wù)管理機(jī)制	嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制，使用戶能夠?qū)⑺袦y(cè)試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來(lái)。
	報(bào)告輸出	分析報(bào)告可以多種形式呈現(xiàn)，同時(shí)可轉(zhuǎn)換成PDF、BMP、Word、Excel等格式
	整體分布特征參數(shù)	D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)
報(bào)告參數(shù)	整體頻率分布累計(jì)分布	顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計(jì)分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。
	統(tǒng)計(jì)平均徑	Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計(jì)平均徑
	形狀參數(shù)	長(zhǎng)徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項(xiàng)常用數(shù)據(jù)
	表頭輸入	可以將樣品名稱、測(cè)試單位、分散介質(zhì)等多項(xiàng)信息輸入到報(bào)告表頭中